LA MICROSCOPIE ÉLECTRONIQUE À BALAYAGE SOUS ENVIRONNEMENT GAZEUX (MEB-EG)

Il traite de l'utilisation de la microscopie électronique à balayage sous environnement gazeux (MEB-EG). Cette technique est très répandue aussi bien dans le monde académique qu'industriel. Avec les avancées dans le domaine des matériaux, il devient crucial de pouvoir étudier les matériaux dans des conditions réelles d'utilisation. Le MEB-EG estune technique de choix pour étudier tout type de matériaux et nanomatériaux quel que soit son état: sec, humide, isolant, conducteur... Cet ouvrage s'articule autour de trois parties. Une première partie concerne le fonctionnement du MEB conventionnel (MEB-C) et ses limites. La seconde partie détaille le fonctionnement du MEB-EG en relation avec la présence du gaz et ses effets. Le contenu de la troisième partie permet à l'expérimentateur de choisir les meilleures conditions pour l'imagerie et pour la microanalyse X dans le MEB-EG. Cet ouvrage est une référence pour les utilisateurs des MEB environnementaux (ESEM) et à pression variable ou contrôlée (VP-SEM, CP-SEM). Au sommaire: - Chapitre 1: Le MEB conventionnel: 1. Les éléments constitutifs du MEB conventionnel; 2. La production des électrons; 3. Éléments d'optique électronique; 4. La détection des signaux; 5. A propos des images; 6. Les limitations du MEB-C. - Chapitre 2: Le MEB-EG: 1. Que peut-on faire avec un MEB-EG?; 2. Quelles différences avec le MEB-C?; 3. Les interactions dans la chambre du MEB-EG; 4. Les stratégies de détection sous environnement gazeux; 5. Comportement du faisceau des électrons dans le gaz; 6. La microanalyse X dans un MEB-EG. - Chapitre 3: Cas pratiques en MEB-EG: 1. Comportement du faisceau en fonction de la pression; 2. Comportement du faisceau en fonction de l'énergie; Comportement du faisceau en fonction de Dgaz.